Part 5. ESD와 EOS는 어떻게 다른가?
Chamber에서 가장 많이 혼동하는 두 가지 불량 Display Panel을 평가하거나 Driver IC 불량을 분석하다 보면 “ESD로 손상된 것 같습니다.”라는 이야기를 자주 듣습니다. 하지만 실제 Failure Analysis를 진행해 보면 ESD가 아니라 EOS(Electrical Overstress) 인 경우도 적지 않습니다. 두 현상 모두 전기적인 손상을 의미하지만 발생 원인과 손상 메커니즘은 완전히 다릅니다. 원인을 잘못 판단하면 Ground를 개선해야 할 문제를 … Read more